SINOPSE | PLANO.ESTUDO | QUANDO ABRE | SAÍDAS PROF. | CANDIDATOS |
disciplina | área | sem. | aulas | ects  | obs | |
1 ano | ||||||
Tópicos Avançados de Qualidade e Metrologia | EF | 1 | T:10;TC:20;OT:20 | 6 | - | |
Sistemas Inteligentes em Instrumentação | EF | 1 | S:20;OT:40 | 6 | e) | |
Instrumentação para Detecção de Radiação | EF | 1 | S:20;OT:20 | 6 | *)e) | |
Electrónica Rápida | EF | 1 | S:20;OT:20 | 6 | *)e) | |
Telemetria e Supervisão | EF | 1 | PL:20 | 6 | *)e) | |
Caracterização de Materiais | EF | 1 | S:10;OT:10 | 6 | *) | |
Materiais Avançados | EF | 1 | S:10;OT:10 | 6 | *) | |
Projecto de Tese em Metrologia e Qualidade | EF | 1+2 | OT:100 | 30 | e) | |
Seminários | EF | 2 | S:10;OT:10 | 6 | e) | |
2 ano | ||||||
Tese em Metrologia e Qualidade | EF | 1+2 | T:120 | - | e) | |
3 ano | ||||||
Tese em Metrologia e Qualidade | EF | 1+2 | T:120 | 120 | e) | |
área científica | sigla | ECTS obrig. | ECTS opcional |
Engenharia Física | EF | 168 | 0-12 |
Física | F | 0 | 0-12 |
Ciências de Engenharia | ENG | 0 | 0-12 |
Opção aberta | OPA | 0 | 0-12 |
total | 168 | 12 |